2634B源测量单元采用TSP技术，提供的吞吐量，适合自动测试

对于需要最高自动化和吞吐量级别的测试应用来说，2600B数字源表的TSP技术提供了业界最JIA的性能。TSP技术远远超越传统的测试命令序列……它*嵌入，然后，在源测量单元（SMU）仪器内部执行完整的测试程序。这实际上避免了所 有耗时的总线-PC控制器之间的通信，因此，大幅缩短整个测试时间。

TSP技术将执行来自2600B系列数字源表内非易失性存储的完整测试程序。

通过TSP-Link技术，实现SMU-Per-Pin并行测试

TSP-Link是通道扩展总线，支持多 个2600B系列数字源表互连，成为一个单 一、严格同步的多通道系统。2600B的 TSP-Link技术与其TSP技术协同工作，支 持高速、SMU-per-pin并行测试。与大型 自动测试设备系统等其他高速解决方案 不同的是，2600B在无需主机成本或负担 情况下，实现了并行测试性能。基于TSP -Link技术的系统，还支持出众的灵活性， 可以根据测试需求的变化，迅速而容易 地对系统进行重新配置。

2634B源测量单元

RSA5103B 1 Hz - 3 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置与报价

RSA5106B 1 Hz - 6.2 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置与报价

RSA5115B 1 Hz - 15 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置与报价

RSA5126B 1 Hz - 26.5 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置与报价

RSA7100A 16 kHz – 14/26.5 GHz 320/800 MHz 700 ns 65 dBc - 配置与报价

PA1000 1 0.04% 读数 + 0.04% 范围 600 VRMS 20 ARMS 直流到 1 MHz 配置与报价

PA3000 1月4日 0.04% 读数 + 0.04% 范围 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250

4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：4200A-SCS 参数分析仪 (2) 4200-SMU 模块 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备

4200A-SCS-PK2  高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz  对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 电容-电压模块

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 电容-电压模块

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模块

(2) 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块

自动化检定套件 (ACS) 软件

超快 BTI 测试项目模块

电缆"

BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置与报价

BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置与报价

BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置与报价