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2510-AT仪器源测量单元
特点 | 优势 |
| 主动温度控制 | 防止温度变化可能引起激光二极管主输出波长发生变化，导致出现信号重叠和串扰问题。 |
| 50W TEC 控制器 | 比其他低功耗解决方案提供更高的测试速度和更宽的温度设定值范围。 |
| 全数字 P-I-D 控制 | 提供更高的温度稳定性，并可通过简单的固件变化轻松升级。 |
| 适用于热控制环路的自动调谐功能 (2510-AT) | 无需反复试验即可确定 P、I 和 D 系数的最JIA组合。 |
| 宽温度设定值范围（–50°C 至 +225°C）以及高设定值分辨率 (±0.001°C) 和稳定性 (±0.005°C) | 能够满足大部分冷却光学元器件和子装配件生产测试的测试要求。 |
| 兼容于多种温度传感器输入 — 热敏电阻、RTD 和 IC 传感器 | 适合最常用于各类激光二极管模块的温度传感器类型。 |
| 交流欧姆测量功能 | 验证 TEC 器件的完整性。 |
| 适用于热反馈元件的四线开路/短路引线检测 | 消除引线电阻测量值误差，减少假故障或设备损坏的可能性。 |
- 2510-AT仪器源测量单元
OM2012 - 配置与报价
OM2210 - 配置与报价
DPO72304SX 单台设备 23 GHz 100 GS/s，50 GS/s 62.5M 点 - 1G 点 2 通道为 23 GHz，4 通道为 23 GHz - 配置与报价
DPO73304SX 单台设备 33 GHz 100 GS/s，50 GS/s 62.5M 点 – 1G 点 33 GHz 时为 2，23 GHz 时为 4 - 配置与报价
DPO75002SX 单台设备 50 GHz 200 GS/s，100 GS/s 62.5M 点 - 1G 点 50 GHz 时为 1，33 GHz 时为 2 - 配置与报价
DPO77002SX 单台设备 70 GHz 200 GS/s，100 GS/s 62.5M 点 – 1G 点 70 GHz 下为 1，33 GHz 下为 2 - 配置与报价
DPS73308SX 双单元系统 33 GHz 100 GS/s，50 GS/s 62.5M 点 – 1G 点 33 GHz 时为 4 通道，23 GHz 时为 8 通道（屏幕上最多显示 4 组数据，其他数据通过程序界面显示） - 配置与报价
DPS75004SX 双单元系统 50 GHz 200 GS/s，100 GS/s 62.5M 点 - 1G 点 50 GHz 下为 2，33 GHz 下为 4 - 配置与报价
DPS77004SX 双单元系统 70 GHz 200 GS/s，100 GS/s 62.5M 点 – 1G 点 70 GHz 下为 2，33 GHz 下为 4 - 配置与报价
TLA7012 272 取决于所安装的模块（2 个模块插槽） 取决于所安装的模块（2 个模块插槽） 取决于所安装的模块（2 个模块插槽） US $27,300 配置与报价
TLA6401 34 667 MHz 25 GHz 40 ps - US $14,500 配置与报价
TLA6402 68 667 MHz 25 GHz 40 ps - US $18,200 配置与报价
TLA6403 102 667 MHz 25 GHz 40 ps - US $21,800 配置与报价
TLA6404 136 667 MHz 25 GHz 40 ps - US $25,600 配置与报价