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GTEM750小室

GTEM750小室

型号:GTEM750

产品时间:2023-11-11

简要描述:

GTEM750小室为小型电子产品的辐射电磁场干扰敏感性提供有力的测试依据。测试系统构成:主要由标准信号源、功率放大器、场强监视器、计算机及操控软件和GTEM 室体组成。

推荐产品
详细介绍

GTEM750小室

  • IEC 61000-4-3
  • IEC 61000-4-20
  • GB/T 17626.3

PPG3204 4 通道可编程码型发生器 32 Gb/s - 配置与报价

LE320 32 Gb/s 9 抽头线性均衡器 32 Gb/s - 配置与报价

相干信号生成 AWG70001A 系列任意波形发生器 以每秒 50 G 采样率和 10 位分辨率生成波形

相干信号生成 PPG3000、PPG4000 系列可编程码型发生器 数据速率高达 40 Gb/s,8 ps 上升时间

相干光调制 OM5110 多格式光发射机 双偏振调制高达 46GBaud,采用自动偏置控制

相干光采集 OM4200 系列光调制分析仪 双偏振相干检测,45 GHz 模拟带宽

相干光采集 OM70000 光调制系统 完整的系统能够进行双偏振相干检测,70 GHz 模拟带宽。 包括 70 GHz 示波器与 OM1106 分析软件。

相干光采集 OM2210 相干光接收机校准源 C 波段和 L 波段光调制分析仪的校准

相干光采集 DPO70000SX 系列示波器 灵活采集,带宽最高可达 70 GHz,采样率可达 200GS/s

GTEM750小室构成的辐射敏感度(抗扰度)测试系统为小型电子产品的辐射电磁场干扰敏感性提供有力的测试依据。测试系统构成:主要由标准信号源、功率放大器、场强监视器、计算机及操控软件和GTEM 室体组成。

AWG70002A 2 8、9 或 10 位 高达 14 GHz 10 GHz 25 GS/s 16 GS/s 8 GS/s 2 GS - 8 GS(可选) - 配置与报价

GETM型号 GTEM250 GTEM500 GTEM750 GTEM1000 GTEM1250

输入功率(瓦)

250/500

500/1000

600/1200

800/1600

800/1600

EUT 电源插座数量

1

2

2

2

2

外部尺寸(长×宽×高cm)

115×64×44

300×165×110

400×220×147

500×276×184

600×330×220

门尺寸(宽×高cm)

30×23

42×40

61×61

79×79

100×100

轮子

可选

标配

标配

标配

EUT(长×宽×高cm)

20×20×15

40×40×30

60×60×50

75×75×70

100×100×85

定义的测试体积±3dB,<1GHz(长

×宽×高cm)

15×15×10

30×30×15

45×45×25

60×60×30

75×75×42

隔板高度(mm)

 

250

500

750

1000

1250

屏蔽性能

10kHz-10MHz:>50dB

10MHz-20MHz:>100dB

连接器  

 N 型

阻抗

50Ω

频率范围

0.1MHz-20GHz

典型驻波比(频率大5HGZ)

1:1.2

重量(公斤)

80

200

400

650

850

 

 


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