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Keithley4200A-SC参数分析仪半导体测试系统

Keithley4200A-SC参数分析仪半导体测试系统

型号:Keithley4200A-SC

产品时间:2023-11-10

简要描述:

Keithley4200A-SC参数分析仪半导体测试系统是一种可以量身定制、全面集成 的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) 和超快速脉冲式I-V 特性。作为性能高的参数分析仪, 4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。

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详细介绍

Keithley4200A-SC参数分析仪半导体测试系统

产品技术资料型号说明价格
查看规格书4200A-SCS-PK1 
高分辨率 IV 套件
210V/100mA,0.1 fA 分辨率 
对于两端和三端设备,MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括:
  • 4200A-SCS 参数分析仪
  • (2) 4200-SMU 模块
  • (1) 4200-PA 前置放大器
  • (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备
索取报价
查看规格书4200A-SCS-PK2 
高分辨率 IV 和 CV 套件
210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 
对于高 K 电解质,深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括:
  • 4200A-SCS 参数分析仪
  • (2) 4200-SMU 模块
  • (1) 4200-PA 前置放大器
  • (1) 4210-CVU 电容-电压模块
  • (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备
索取报价
查看规格书4200A-SCS-PK3 
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件
210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 
对于功率设备、高 K 电解质,深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括:
  • 4200A-SCS 参数分析仪
  • (2) 4200-SMU 模块
  • (2) 4210-SMU
  • (1) 4200-PA 前置放大器
  • (1) 4210-CVU 电容-电压模块
  • (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备
索取报价
查看规格书4200-BTI-A 
超快 NBTI/PBTI 套件
用于使用* CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括:
  • (1) 4225-PMU 超快 I-V 模块
  • (2) 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块
  • 自动化检定套件 (ACS) 软件
  • 超快 BTI 测试项目模块
  • 电缆
索取报价

 

Keithley4200A-SC参数分析仪半导体测试系统

 


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