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4200-BTI-A参数分析仪半导体测试系统

4200-BTI-A参数分析仪半导体测试系统

型号:4200-BTI-A

产品时间:2023-11-10

简要描述:

4200-BTI-A参数分析仪半导体测试系统是一种可以量身定制、全面集成 的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) 和超快速脉冲式I-V 特性。作为性能高的参数分析仪, 4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。

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详细介绍

4200-BTI-A参数分析仪半导体测试系统

4200A-SCS 仪器和模块

型号说明主要测量范围测量分辨率
  4200-SMU  中等功率源测量单元  DC I-V
超低频率 C-V
准静态 C-V
  ±100 mA, ±210 V  0.2 mV, 100 fA
4210-SMU高功率源测量单元±1 A, ±210 V0.2 mV, 100 fA
4200-PA远程前端放大器模块扩展所有 SMU 的电流范围0.2 mV, 10 aA
   1 kHz - 10 MHz 
4210-CVU电容电压单元AC 阻抗
C-V, C-f, C-t
±30 V 内置DC 偏置装置(60 V 差分)
使用 SMU 扩展直流偏置电压至
-
   ±210V 
4200A-CVIVI-V/C-V 多通道
开关模块
DC I-V 和 C-V 自动切换--
  脉冲式 I-V
SegmentARBR® 多电平脉冲
瞬态波形捕获
±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/s 同时测量电流和电压
 
4225-PMU超快速脉冲测量单元2048 个唯YI段75 nA
  20 ns 脉宽仅输出时 
  60 ns 脉宽输出同时测流时 
4225-RPM远程前段放大器 /
开关模块
DC I-V、C-V、脉冲式 I-V
间自动切换
扩展 4225-PMU 单元的电流范围200 pA
4220-PGU高压脉冲发生器单元脉冲式电压源
Segment ARB® 多电平脉冲
±40 V (80 Vp-p)
2048 个唯YI段
-
接地单元内置低噪声接地单元-三同轴连接 : 2.6 A
接线柱 : 9.5 A
  • 4200-BTI-A参数分析仪半导体测试系统2614B 2 10A 200V 100fA / 100nV 200 W - US $10,500 US $8,970

    2602B 2 10A 40V 100fA / 100nV 200 W - US $12,100 US $9,440

    2612B 2 10A 200V 100fA / 100nV 200 W - US $12,100 US $9,820

    2635B 1 10A 200V 0.1fA / 100nV 200 W - US $12,400 US $10,200

    2634B 2 10A 200V 1fA / 100nV 200 W - US $16,500 US $11,200

    2636B 2 10A 200V 0.1fA / 100nV 200 W - US $18,800

    2606B 4 3A 20V 100fA / 100nV 20 W - US $24,900

    2651A 1 50A 40V 100fA / 100nV 2000 W - US $21,500

    2657A 1 120mA 3000V 1fA / 100nV 180 W - US $26,200

    2510 1 5A 10V 50 W - - US $7,080

 


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